中古 JMAR Mirage S2610-01-01-N #112118 を販売中

JMAR Mirage S2610-01-01-Nは、電圧、容量、抵抗などの半導体デバイスパラメータの信頼性の高い測定を提供するように設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、高性能の高精度エアベアリングロータによって駆動され、ウェハの厚さとプロファイルを正確に測定することができます。また、ウェーハの表面にテープの高さとフォームプロセスを表示できるウェーハ変形解析モジュールを備えています。S2610-01-01-Nには、スキャン速度、センサーの応答時間と解像度、およびその他の設定を制御できる高度な制御機とソフトウェアインターフェイスが装備されています。このツールは、LED照明などの高度なイメージング技術と統合されており、ウェーハ検査および画像反射およびノイズ除去を改善します。イメージング技術は、幅広いウェーハのデータ収集と分析を向上させるために設計されています。また、湿度および温度補償アセットを内蔵しており、ウェットおよびドライウェーハの正確な測定を可能にします。また、S2610-01-01-Nを使用しています。このモデルの包括的なソフトウェア機能は、データストレージおよび分析機能と組み合わせて、生産ラインのテストに最適です。機器によって収集および分析されたデータは、複数のファイル形式で保存、セグメント化、エクスポートすることができます。また、リアルタイムでエラーのないデータ出力とパフォーマンス分析を提供し、ウェーハの品質を迅速に評価します。さらに、信号平均化、フィルタリング、平坦マッピング、信号形状変更、信号形状最適化などの信号処理機能を備えています。これにより、あらゆる半導体デバイスの電圧、静電容量、抵抗を正確に測定できます。Mirage S2610-01-01-Nは、ウェーハの厚さと半導体デバイスパラメータの信頼性の高い測定を提供する、費用対効果の高い洗練されたウェーハ試験および計測機です。このツールの高度なイメージング技術と信号処理機能により、生産ラインのテストに最適です。