中古 ISIS SENTRONICS StraDex 300S #9072232 を販売中

ISIS SENTRONICS StraDex 300S Wafer Testing and Metrology Equipmentは、高精度、動的性能、費用対効果の高いプロセス制御に対する半導体業界の要求に応えるために設計された包括的なソリューションです。StraDex 300Sは、自動ウェーハ検査と計測のターンキーソリューションを提供します。その一連の統合ツールには、ウェーハの欠陥をプロービングおよび発見するためのユニークなマルチセンサスキャンプラットフォームが含まれています。ウェーハ上のエピタキシャルパターンの拡大のための高解像度光学顕微鏡。表面および他の特徴の速く、正確な検査のための回転段階；高度なプロセスオートメーションのための高度な生産管理。マルチセンサスキャンプラットフォームは、複数の高度なセンサーを使用して、ウェーハジオメトリと表面トポロジの微妙な変化を迅速に検出します。これらのセンサは、レーザー共焦点、原子力、X線回折などの技術、高度なビジョンアルゴリズムなど、さまざまな技術を使用しています。このプローブ群は、必要なデータをすばやくキャプチャし、正確さと信頼性を備えたウェーハ情報のレポートを生成できます。高解像度光学顕微鏡は、ウェーハ上の微細な特徴を拡大し、小さな欠陥や粒界などの特徴を高解像度で画像化することができます。その多層光学システムとその高度なビジョンアルゴリズムは、リアルタイムで明るい画像を提供します。Rotating Stageは、ウェーハの表面やその他の特徴を迅速かつ正確にスキャンして検査できる高度に自動化されたユニットをユーザーに提供します。その精密銀製軸受けモーターは滑らかで、信頼できる性能を保障します。最後に、Advanced Production Controlは、プロセスのパラメータを簡単に調整し、パフォーマンスを迅速に見直す機能をユーザーに提供します。これにより、生産プロセスの開発と最適化の効率と精度が向上します。このように、ISIS SENTRONICS StraDex 300S Wafer Testing and Metrology Machineは、プロセス制御を強化するために必要な正確なデータと制御をユーザーに提供することができます。スケーラブルで包括的なツール群により、あらゆるファブリケーターにとって効率的で正確なウェーハテストと計測が可能です。