中古 ISIS SENTRONICS SemDex 300 #9269325 を販売中

ISIS SENTRONICS SemDex 300は、効率的で正確なウェーハ欠陥解析、測定、並べ替えを提供するウェーハ試験および計測機器です。トランスミッション電子顕微鏡（TEM）技術を使用して、高解像度イメージングと3Dトポグラフィーマッピングを容易にします。これらの機能を組み合わせて使用すると、幅広い容量性および抵抗性サンプルにわたる欠陥検出、ウェーハ製造欠陥検出、非破壊計測、および裏面解析が可能になります。光学用のデュアル波長干渉計を採用し、構造物をナノメートルレベルまで測定する際の高精度を実現しています。高度な精度により、すべてのウェーハ製造タスクにおいて高い精度を保証します。さらに、このユニットはユニークなユニバーサルリファレンス技術を使用して、計測機と他の機器（C-CADソフトウェア、マシンビジョンなど）との間で情報が正確に収集され共有されるようにします。SemDex 300はまた、独自の高耐性スキャンツールを使用しています。この高速スキャンアセットは、わずか数分でメガピクセル画像を正確に生成することができます。これにより、欠陥やプロセスのバリエーションを効率的に正確に検出できます。さらに、brightfield、 darkfield、 automated indexing、 manual inspectionを含む複数の標準およびカスタム検査モードを備えています。複数の検査モードは、さまざまな種類のウエハ関連欠陥を分析する際の堅牢なアプローチを提供します。最後に、ISIS SENTRONICS SemDex 300は、他のソフトウェアツールやハードウェアソリューションとの統合も提供しています。これにより、ソフトウェアの高性能処理機能をさまざまなタスクに活用できます。SENTRONICS SemDex 300は、プラットフォーム上にカスタマイズされたソフトウェアアプリケーションを構築する機能と、自動データロギングや分析などの機能を備えた、ウェーハテストと計測のための強力で汎用性の高いソリューションです。