中古 HOMMEL T2000 #9095342 を販売中

HOMMEL T2000 Wafer Testing and Metrology Equipmentは、高度な半導体プロセス制御およびフィールドレベル計測用に設計された高性能の多機能システムです。包括的な自動ウェーハテストと計測機能を提供するこのユニットは、プロセスおよび製品の一貫性の課題を検出および特定するための、幅広い高速かつ正確な測定を提供します。T2000は、高解像度イメージング、自動欠陥検出、ウェーハ上の欠陥特性評価など、高度なウェーハイメージング機能を備えています。また、IV、 C-V、専用のフルチッププロセス監視およびプロセス制御テストなど、さまざまなウエハテストモジュールオプションを提供しています。このツールは、標準、高度、カスタマイズされたサイズを含むすべてのタイプのウェーハを処理するように設計されています。同じテストヘッド内でウェーハサイズを簡単に変更できるため、異なるサイズを素早く正確に切り替えることができます。これにより、さまざまなサイズの複数のウェーハを同時にテストできます。HOMMEL T2000には、カスタマイズ可能なソフトウェアツールとウェハテストレシピが含まれており、ユーザーは特定のアプリケーションのテストパラメータを迅速かつ正確に確立できます。さらに、このモデルは、複数のテストヘッドと複数のウェーハローダーを使用してあらゆるタイプのテストウェーハを迅速に処理する、テスト実行の完全な自動化を提供します。包括的なウェーハテストおよび計測機能に加えて、T2000は優れたウェーハトラッキングおよびトレーサビリティ機能も提供します。カスタムパス/フェイルテストを利用することで、ウェーハジオメトリ、パターニング、トポグラフィー、その他の潜在的な問題など、仕様に適合しないウェーハやロットを迅速かつ正確に識別できます。全体として、HOMMEL T2000ウェーハテストおよび計測機器は、性能、精度、柔軟性の強力な組み合わせを提供し、研究および産業用途の両方に最適です。このシステムの堅牢な一連の技術により、ユーザーはプロセスと製品の問題を迅速かつ正確に検出して識別することができ、トータルオートメーションはトレーサビリティと高解像度イメージング制御とともに、高度な半導体プロセス制御に不可欠なツールとT2000ます。