中古 HOMMEL-ETAMIC W10 #293755236 を販売中
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ID: 293755236
Surface profile roughness gauge
Type: Skidded pick up
Maximum traversing length 17.5 mm, Cut Off 0.25 / 0.8 / 2.5 / mm
(40) Surface roughness parameters according to DIN EN ISO 4287, DIN EN ISO 13565, ISO 12085 and JIS B601 MOTIF
(7) Measuring programs with individual measurement / evaluation conditions
Touch screen: 4.3" (11 cm) color
Display of parameters, profiles, material ratio and statistical data
Integrated printer with Easy-Paper-Loading function
Memory for 2000 readings and 500 profiles for each measuring program
USB - interface for PC connection
Operation: Cord/cordless
Base unit with rest and barrel jack
Traverse unit LV17, 17.5 mm tracing length, tripod legs
Pick up T1E, 2μm/90°, skid radius 30/1.95 mm
Integrated surface roughness standard with data sheet
Calibration Certificate for the instrument
2 Rolls of printer paper
Probe protection with lighting
Support prism for small shafts
Charger/AC Adapter: 100 V to 240 V
USB Cable
Instruction manual.
HOMMEL-ETAMIC W10は、半導体ウェーハの品質と性能を評価するための高精度で正確な測定機能を提供する高度なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、半導体業界の厳しい要件を満たすように設計されており、ウェハの検査、テスト、分析のための包括的なソリューションを提供します。W10ユニットの中心にあるのは、最先端の技術を駆使し、卓越した精度で半導体ウェーハの主要パラメータを測定する高度な計測プラットフォームです。表面粗さ、平坦度、厚さ、欠陥検出など、ウェーハ品質の様々な側面を評価できる各種センサや計測モジュールを搭載しています。HOMMEL-ETAMIC W10ツールの主な特徴の1つは、ユーザーが微細なレベルでウェーハ表面の詳細な画像をキャプチャできる高解像度イメージング機能です。これにより、ウェーハの性能に影響を与える可能性のある欠陥、汚染、または不規則性の識別および分析が可能になります。また、画像品質を向上させ、画像から貴重なデータを抽出するための高度な画像処理アルゴリズムと画像処理ツールも提供しています。W10モデルには、イメージング機能に加えて、表面粗さや平坦度などの重要なウェーハパラメータを定量化できる精密な測定ツールが搭載されています。この装置は、ウェーハ表面の地形を正確に測定し、表面特性に関する詳細な情報を提供するために、スタイラスプロファイリング、光干渉、レーザースキャンなどのさまざまな計測技術を使用しています。さらに、HOMMEL-ETAMIC W10システムは、試験プロセスを合理化し、一貫した信頼できる結果を保証する自動測定および分析ルーチンを提供します。このユニットは、複数のウェーハで繰り返し測定を行うようにプログラムすることができ、効率的なデータ収集と分析を可能にします。さらに、このマシンはユーザーフレンドリーなソフトウェアインターフェイスを備えており、すべてのスキルレベルのユーザーに直感的な操作とデータ視覚化を可能にします。W10ツールのもう1つの特長は、汎用性と拡張性であり、ユーザーは特定のテスト要件を満たし、さまざまなウエハサイズと種類に対応できるようにアセットをカスタマイズできます。このモデルには追加のモジュールとアクセサリを装備して、測定機能を拡張し、半導体業界の特定のテストニーズに対応することができます。全体として、HOMMEL-ETAMIC W10装置は、ウェーハ試験および計測のための最先端のソリューションであり、高度な技術、正確な測定機能、ユーザーフレンドリーな操作を提供します。包括的な機能とカスタマイズ可能なオプションを備えたこのシステムは、半導体ウェーハの品質と信頼性を確保しようとする半導体メーカー、研究機関、試験研究所に適しています。
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