中古 HITACHI ZA-H200PVI2 #9412552 を販売中

HITACHI ZA-H200PVI2ウェーハテストおよび計測機器は、さまざまなアプリケーションにおいて正確で信頼性の高い性能を提供するために設計された高精度で完全に統合された計測システムです。クリティカルな寸法（CD）、オーバーレイ、均一性など、ほとんどのウェーハパラメータを測定するように設計されています。このユニットは、シリコン、ヒ素ガリウム、リン酸インジウムなど、さまざまなウエハ基板上で測定することができます。走査型電子顕微鏡（SEM）検出器やレーザー自動フォーカシングツールなどの先進的な光学機器を搭載しており、解像度、精度、再現性に優れています。アセットには、再現可能な動きと位置決め精度を提供するための改善されたサンプルステージも含まれています。ZA-H200PVI2には、ユーザーがアプリケーションに最適な組み合わせを選択できる、幅広い測定オプションが含まれています。このモデルは、サンプル処理のための手動システムと自動システムの両方をサポートし、最大5軸の自動化をサポートしており、特定の種類のウェーハ用に設計された特殊なツールを統合することができます。この装置は、フィーチャーの自動抽出と測定、自動化された操作、反復フィードバック制御にも対応しています。このシステムには、高度な計測ソフトウェアが組み込まれており、データ収集、分析、レポートに関連する多数の機能をユーザーに提供します。これにより、ユーザーはデータを迅速かつ正確に分析することができます。ソフトウェアはまた、より良いデータ制御のための自動および半自動ツールの広い範囲を提供します。このソフトウェアは、データの高速可視化と分析が可能であり、ユニットはボタンをクリックすると正確なリアルタイム、3次元データを生成することができます。HITACHI ZA-H200PVI2は、精密で信頼性の高い効率的なウェーハテストと計測機で、さまざまな用途に適しています。これは、正確で信頼性の高い分析とデータ管理のための高度なソフトウェアと機能の包括的な範囲を提供しています。