中古 HITACHI JG-0148 #9377467 を販売中

HITACHI JG-0148は、半導体業界で使用されるウェーハ試験・計測機器です。強力な画像解析システムを搭載し、新しいプロセス技術の開発のためのウェーハの高精度、高精度の測定のために設計されています。このユニットは、最大30倍の顕微鏡と高度な照明技術を使用して、信頼性の高い表面およびサンプル分析を可能にします。JG-0148のアルゴリズムは、ウェーハ表面のさまざまな種類の粒子や物体を自動的に検出し、識別することができます。さらに、JIS、 SOP、 SEMI規格に準拠した2Dスキャン測定が可能です。画像解析ソフトウェアの高度な機能により、ユーザーはウェーハの寸法とプロファイルを正確に測定できます。ツールによって取得されたデータは、オンボードCFメモリとUSBデバイスとCDから保存および取得できます。さらに、外部プリンタに出力することもでき、ユーザーは資産から離れたデータを分析することができます。また、日立JG-0148モデルは刺激制御、精密追跡、ペトリ皿の配置、サンプル保護など様々な機能を備えており、精度と効率を向上させています。さらに、人間工学に基づいて設計されたLCDモニターと柔軟なイメージング操作を備えているため、生産環境のニーズに合わせて設計されています。また、複数のウェーハの欠陥を測定し、統計を収集する機能を備えており、プロセス制御を改善できます。これにより、新しいプロセス技術の迅速な開発も可能になります。メンテナンスを最小限に抑え、システムの寿命を延ばすために、JG-0148は安全な遮断回路、火花抵抗ユニット、および防塵機構を使用しています。これにより、半導体業界に長期にわたる信頼性の高い測定ソリューションを提供します。HITACHI JG-0148は、ウェハテストと計測のための高解像度と精度を提供する先進的な機械です。ユーザーフレンドリーで、より迅速な製品開発を可能にする堅牢な機能とツールを提供しています。ウェーハ表面の粒子を検出し識別する機能を提供することにより、JG-0148ツールは、生産ラインの効率を向上させ、信頼性の高い結果を提供します。