中古 HEXAGON METROLOGY Global Vantage #9363428 を販売中

HEXAGON METROLOGY Global Vantageは、大量の半導体産業のために設計された強力なウェハテストおよび計測機器です。最先端の技術を使用して、ウェーハと基板の両方の欠陥を正確に測定および検出します。このシステムは、包括的な検査機能を備えており、2Dと3Dの両方の技術を使用して、さまざまな潜在的な欠陥を検出します。Global Vantageは、半導体およびメモリウエハの効率的かつ正確な表面検査のための自動光検査ユニットを提供しています。ウエハーや基板上の傷、異物、亀裂など様々な欠陥を識別する工程を内蔵しています。また、包括的なCCDイメージフュージョンテクノロジーを搭載しているため、ユーザーは各ウェーハの正面と側面の両方のビューを組み合わせて分析することができます。このツールはまた、洗練されたウェーハメトロロジーソリューションの数を提供しています。ウェーハ表面マッピング資産は、ウェーハまたは基板の地形の正確な測定を提供します。また、SEM、 FIB、 AFM、ナノスコープなどの高度な検査技術を幅広くサポートしているため、最も要求の厳しい半導体アプリケーションにおける微細な欠陥を迅速に特定できます。この強力で精密なモデルは、ダウンタイムを最小限に抑えて動作するように設計されており、幅広い機器構成オプションを提供します。コンパクトな設計と容易な統合により、あらゆる半導体生産環境に適しています。また、リモートアクセスを備えた共通のソフトウェアインターフェイスを備えているため、ユーザーはあらゆるコンピュータステーションからすべてのサブシステムにアクセスして構成することができます。HEXAGON METROLOGY Global Vantageは、ウェーハや基板の欠陥を検出するための強力で信頼性の高いツールです。その高度な計測ソリューションと自動光検査機能は、最も要求の厳しい半導体生産環境において比類のないレベルの品質保証を提供します。ウェーハ表面マッピング、欠陥検査、高度な計測ソリューションに使用される場合でも、Global Vantageは大量の半導体産業に最適なユニットです。