中古品 HERMES MICROVISION / HMI (ウェハ検査・計測) を販売中

Hermes Microvision （HMI）は、ウェーハ試験および計測機器の大手メーカーです。半導体製造プロセスの効率と精度を高めるために設計されています。HMIのウェハテストシステムは、製造プロセス中に半導体ウェハーの欠陥や不規則性を検出するために使用されます。eP3 XPのようなこれらのユニットは、ダークフィールド検査のような高度な技術を採用しており、粒子、傷、パターン偏差などのさまざまな欠陥タイプを識別することができます。これにより、製造メーカーは徹底した品質管理を行い、高品質な半導体ウェーハの製造を確実に行うことができます。Epointer2-VCやEpointer2などのHMIの計測機は、半導体デバイス構造の正確で信頼性の高い測定データを提供するように設計されています。これらのツールは、寸法、プロファイル、材料組成などの重要なパラメータを正確に測定するために、走査電子顕微鏡（SEM）や透過電子顕微鏡（TEM）などのさまざまな技術を採用しています。これにより、製造メーカーは半導体デバイスの性能と品質を検証し、必要な仕様を満たすことができます。HMIのウェーハテストおよび計測資産には、高精度、高速検査速度、包括的な欠陥検出機能など、いくつかの利点があります。これらのモデルは、プロセス制御を強化し、歩留まり率を改善し、製造コストを削減するための貴重なデータをメーカーに提供します。全体として、HMIのウェハテストおよび計測機器は、半導体メーカーにとって不可欠なツールであり、高品質の半導体製品を実現し、業界で競争力を維持することができます。