中古 HANRA HRI 580L #9200946 を販売中

半導体業界では、HANRA HRI 580Lウェーハ試験および計測装置を使用して、IC、ウェーハ、コンポーネントの包括的な解析および特性評価を行います。高解像度イメージングシステム、マルチアングル散乱試験ユニット、分光計ベースの計測ユニットを備えています。イメージングマシンは、同じウエハの異なる部位の複数の画像を高速連続で撮影できる特殊なデジタル顕微鏡を採用しています。これにより、各ICと各コンポーネントの組成と配置の詳細な分析が可能になります。このツールはまた、組み込みのグリッド形成と寸法測定を備えており、迅速かつ正確な結果を提供します。マルチアングル散乱試験ユニットは、ウェーハまたはコンポーネントを3つの異なる角度で詳細に解析することができます。ユニットは、その電気的および物理的特性に関する情報を提供するために、各部品のサイズ、形状、向きなどのパラメータを測定します。これにより、プロセスパラメータの最適化が可能になり、製造される各デバイスの品質が保証されます。分光計ベースの計測資産は、ウェーハまたはコンポーネントの化学的、電気的、および光学的特性を測定するための分光技術を採用しています。このモデルは、欠陥の検査、汚染物質の有無の判定、電気インピーダンスの解析など、さまざまな用途に使用できます。この装置を使用すると、ユーザーは1分以内に結果を得ることができ、結果としてより効率的な生産ワークフローが得られます。HRI 580Lウェハテストおよび計測システムは、ICおよびその他のコンポーネントの特性評価と最適化を支援する強力なコンポーネントの組み合わせを提供します。そのイメージングユニット、マルチアングル散乱試験、分光計ベースの計測機は、各部品の詳細な分析を可能にし、品質の高い生産を確実に実行するために必要な値を提供します。