中古 HANRA HRI 580L #293635049 を販売中

HANRA HRI 580Lは、半導体材料の特性評価用に設計されたウェーハ試験・計測機器です。このシステムは、独自に設計された光学顕微鏡、レーザースキャン顕微鏡、およびウェーハの自動テストを可能にするライティングステーションを備えています。ナノエレクトロニクス装置のナノレベル観測、地形測定、電気特性測定などに適しています。Laser Scanning Microscope （LSM）モジュールは、レーザー光学と組み合わせた光学顕微鏡を使用して地形を測定し、大面積の画像に対して1nmの解像度を得ることができます。ウェーハの欠陥を特定し、表面の形態を監視することができます。LSMはまた、スキャンされた画像にレーザー測位技術を使用して正確な座標が含まれていることを保証します。HRI 580Lの自動ライティングステーションは、手動操作なしで高精度なライティングタスクを実現します。これは、所望の書き込み軌道に合わせて調整可能なジェット機を使用し、最小ミクロンの正確な書き込み解像度に達することができます。このライティングステーションにより、ウェハレベルでの地形解析、オーバーレイ校正、電気特性解析などの自動タスクが可能になります。HANRA HRI 580Lは、ハイエンドテストおよび計測アプリケーション向けに設計されており、そのために必要なすべての機能を提供します。これは、統合されたタッチパネルインターフェイス、および正確さと信頼性を確保する高仕様のコンポーネントで行います。このツールは、最大10インチの直径の作業領域を持ち、より大きなタスクのスケーラビリティを可能にします。さらに、アセットには大きなダイナミックレンジがあり、柔軟性と幅広いアプリケーションを可能にします。全体として、HRI 580Lは半導体材料の特性評価用に設計された特殊なウェーハ試験および計測モデルです。この装置は、独自に設計された光学顕微鏡、レーザースキャン顕微鏡、自動ライティングステーションで構成されています。この機能の組み合わせにより、ナノ電気デバイス、地形、電気特性などのナノメートルレベルの観測を正確かつ信頼性の高い試験が可能になります。このシステムは、幅広いウエハテストおよび計測アプリケーション向けのハイエンドソリューションとして機能します。