中古 GERMANY DEKTAK 150 #9315626 を販売中

ドイツDEKTAK 150は、半導体基板の重要な部品特性を正確に測定するために設計されたウェーハ試験および計測機器です。DEKTAK 150は、垂直スキャンヘッドユニットに搭載された連続スキャンレーザービームを使用しています。この洗練されたシステムは、0。5ナノメートルまでの精度で直径6インチまでのウェーハの表面を正確に測定するように設計されています。ドイツDEKTAK 150は、半導体、医療機器、自動車など幅広い業界のシリコンウェーハのステップハイト、表面プロファイル、表面平坦度などの重要な機能の測定に最適です。DEKTAK 150は、単一のステップから複雑なパターンまで、多種多様な機能を測定することができ、非常に細かい線幅または微細な表面欠陥を持つサーフェスを分析することができます。また、表面の特徴や不規則性を検出して分析することができるさまざまな高度な画像解析アルゴリズムを使用しています。ドイツDEKTAK 150には、ビデオ顕微鏡、レーザー顕微鏡、光ファイバー干渉計、近距離イメージングなどのさまざまなイメージング技術が搭載されており、すべて3次元でコンポーネントの画像をキャプチャするために使用できます。DEKTAK 150は、高度なイメージング機能に加えて、一貫したスキャン品質と最も正確な測定を保証するアダプティブレーザーパワーマシンを備えています。このツールはダイナミックなフォーカスも提供しており、測定対象のサーフェスの角度に関係なく最適化されたフォーカスを可能にします。ドイツDEKTAK 150には、振動のない正確なX、 Y、 Zスキャン動作を保証する高精度のリニアフィードバックモータも装備されています。最後に、このアセットには、標準測定機能のライブラリ、リアルタイムプロセス監視、ライブイメージ分析、イベントログ、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス、クイック分析設定、データ転送機能などの有用な機能を提供する最先端のソフトウェアが含まれています。ユーザーフレンドリーなソフトウェアにより、測定パラメータの選択、結果の解釈、さまざまなファイル形式の出力も簡単に行えます。全体として、DEKTAK 150は、幅広い業界にとって理想的なウェーハテストおよび計測モデルです。その高度なイメージング機能と高度なソフトウェア機能と信頼性の高いスキャン品質と精度により、半導体基板の重要部品を正確に測定するための貴重なツールとなります。