中古 GCA / TROPEL II-150 #9285600 を販売中

GCA/TROPEL II-150ウェーハ試験および計測装置は、シリコンウェーハなどの半導体デバイスの平面表面の計測のための高度かつ高度に自動化されたソリューションです。ステージ、アライメント、イメージング部品と一体化した低倍率光学顕微鏡を活用し、高精度で様々な臨界表面測定を行います。GCA II-150は最大300ミクロンのダイナミックレンジを持ち、非常に小さいパターンから非常に大きなパターンまで測定できます。それは8 × 10装置まで測定でき、結果の正確さへのオペレータの影響を最小にするように設計されています。このシステムには、同じ表面の複数の画像を同時に取得できる高度なフレームグラビングイメージングユニットが含まれており、画質の向上と画像条件の自動最適化が可能です。TROPEL II-150は、複数の画像を自動登録するために4点のアライメントスキャニングテクニクを使用しています。これにより、ミクロンレベルの精度で全領域をマッピングすることができます。このツールには、3Dイメージングのためのさまざまな分析ツールも含まれており、10 nmの小さな異物や不規則性から表面欠陥を検出することができます。このアセットには強力な自動平面サーフェスエミッタが含まれており、パターン化されたサーフェスを測定するための重要な機能を提供します。この機能により、平坦度を測定するための一貫性のある反復可能な結果が保証され、複雑な形状のより正確な複製が可能になります。このモデルのTotal Focusテクノロジーは、デバイス内の複数の深さからすべてのデータを同時に取得し、表面特性を向上させることができます。II-150は使いやすく信頼性の高い機器であり、あらゆる平面面の測定において正確で再現性のある結果を保証します。あらゆる半導体製造環境での使用に適しており、計測およびウェーハ試験に費用対効果の高いソリューションです。