中古 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 #293822788 を販売中

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 FSMは、ウェーハおよび金型に精密かつ正確な計測を提供するように設計されたウェーハ試験および計測機器です。FSM 128などのウェーハ試験および計測システムを使用して、集積回路（IC）の電気的、光学的、物理的特性をダイ・レベルで正確に測定します。FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM-128は、従来のエッジ検出と補間を使用した高度な検出エンジンと、欠陥を見つけるための最新の設計および分析技術を備えています。このユニットは、高度なジオメトリ測定ツールを使用して、設計からの逸脱が誤動作または歩留まり損失を引き起こす可能性のあるチップの重要な領域を特定します。次に、これらの重要な領域の検査と測定を行うために、イメージング技術の組み合わせを使用します。FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128はモジュラープラットフォームで構築されており、お客様はマシンをカスタマイズし、ウェハテストおよび計測ツールで必要な機能を選択できます。このモジュラー型プラットフォームにより、お客様は資産構成の柔軟性を高めることができます。FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128は、さまざまな最先端の画像取得機能も備えています。カメラのステージでは、FSM FSM 128は、金型表面のフルフィールドイメージをキャプチャすることができます。また、個別のダイの個々のイメージを自動的にステッチすることができる自動ダイツイメージステッチモジュールを備えており、ユーザーは1つのイメージでダイ表面全体を表示できます。FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM-128は、サンプルの検査と分析を合理化する自動欠陥検査機能も備えています。ラインエンド、異物、傷、ショーツなど、さまざまな欠陥を検出できます。さらに、電気測定、光反射率、暗い電流、明るさなど、さまざまな測定機能がFSM-128されています。これらの高度なセンサは、従来のシステムよりも細かい測定を可能にし、より高い精度と再現性を提供します。さらに、電気誘電体の厚さを測定することができ、ICのより正確な特性評価が可能です。また、金型表面の均一性を測定することができます。これは、製品の品質保証に重要です。FRONTIER SEMICONDUCTOR（フロンティア・セミコンダクター）の128は、ウェーハおよびダイに精密かつ精密な計測を提供するように設計された先進的なウェーハ試験および計測機器です。モジュラー設計、ハイエンド検出エンジン、自動欠陥検査、高度な画像取得および測定機能を備えたFSM FSM-128は、ウェーハテストと計測ニーズに対応する包括的なソリューションをお客様に提供します。