中古 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800 #9227398 を販売中

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800は、最新の半導体生産環境のニーズに合わせて設計された先進的なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、高度なオンウェーハ試験技術を採用しており、単一のデバイス上で幅広い電気的、構造的、光学的パラメータをテスト、特性評価、報告することができます。高精度なFSM 8800は、大容量の試験およびデバイス特性評価に適しています。抵抗、静電容量、電流電圧特性、モビリティ、キャリア寿命などのパラメータを測定できます。さらに、試験中のデバイスの光の反射と吸収を測定するための多数の回折光学を含む最上位光学分析機能を内蔵しています。このマシンは、最高の精度、再現性、高スループットを実現する自動プラットフォームを強調しています。表面およびウェーハ層の構造や異常を高解像度（電子顕微鏡）で測定します。また、繰り返し、欠陥、サイズ分布、ダイ領域などのパターン特性を識別および測定するための多数の組み込みアルゴリズムも備えています。FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800には、PMIS （Production Management Information Tool）などの専用ソフトウェアプログラムも含まれており、データ分析、監視、レポート作成、およびテストデータのタイムリーな完了を可能にします。また、このソフトウェアを使用すると、ユーザーはテストステージ全体でプロセスパラメータを効果的に管理し、デバイスが期待どおりに動作するようにすることができます。さらに、このアセットはバックエンドのプロセス制御UIまたはコントローラを備えており、テストプロセスを制御するための統一されたプラットフォームをユーザーに提供します。ウェーハ、プローブ、スキャナ、その他の試験機器など、モデルのデバイスやコンポーネントをプログラムして管理することができます。この機能により、ユーザーはすべてのコンポーネントを追跡し、必要に応じてテストプロセスを最適化することができます。全体として、8800は包括的なウェーハテストおよび計測機器で、伝統的な最先端の試験技術を組み合わせています。光分析、自動プラットフォーム、PMISソフトウェア、プロセス制御UIなどの機能をユーザーに提供し、正確で再現性のあるハイスループットテストを可能にします。