中古 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800 #56901 を販売中

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800は、FSM/FRONTIERが半導体の様々な特性を測定するために製造したウェハテストおよび計測機器です。製造中の半導体ウェーハの完全なテストと分析を提供し、最終製品の品質を向上させるために必要な調整を行うことができます。FSM 8800は、試験ステーションと計測ステーションの2つの主要な機能部品で構成されています。試験ステーションは、ウェーハパラメータの精度と均一性を検証するために使用されます。抵抗、電圧、電流、静電容量など、さまざまなパラメータをすばやくテストできるように設計されています。0〜5ボルトのDCと最大150nAの電流の試験が可能です。計測ステーションは、地形、厚さ、表面粗さ、質感、電気特性などの物理的特徴を測定します。ナノメートルレベルまでのフィーチャーサイズ測定が可能です。FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800システムにはいくつかの機能があり、ウェハテストや計測に最適です。ウェーハデータを素早く取得できるマルチチャネル光学インタフェースを搭載しています。このデータは付属のソフトウェアで分析することができ、エンジニアは短絡、低抵抗、高電流密度などの問題を見つけることができます。さらに、このユニットは、セットアップとキャリブレーションを簡単にするユーザーフレンドリーなインターフェイスを備えています。8800マシンは、ウェーハレベルだけでなく、個々のコンポーネントでも分析することができます。抵抗、電圧、電流、静電容量などの個々の部品の電気特性、および地形、厚さ、面粗さなどの物理的特徴を測定できます。さらに、製造のばらつきによる不均一性の検出と分析も可能です。結論として、FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800ツールは、半導体メーカーにとって強力な測定および試験ツールです。このアセットを使用して、エンジニアは、ウェーハパラメータ、地形、厚さ、表面粗さ、テクスチャ、抵抗、電圧、電流、および容量の精度と均一性に関連する特性を迅速にテストおよび測定できます。さらに、ユーザーフレンドリーなインターフェイスと付属のソフトウェアにより、簡単なセットアップと分析が可能です。