中古 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C #9354274 を販売中

FSMLFSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2Cは、汎用性と高度なウェーハ試験および計測機器です。高速、非破壊的、自動化された計測およびウェーハテストサービスを高スループット環境で提供するように設計されています。FSM 128L C2Cイメージング技術を搭載しており、高解像度イメージングと高度な光学技術を活用し、幅広い用途で高度な計測機能を正確に提供します。このユニットは、3µmなサイズの特徴サイズを検出し、あらゆるタイプの半導体材料の欠陥を正確に検出することができます。FSMLFRONTIER SEMICONDUCTOR 128LC2Cには、以下のような高度な機能が搭載されています。高速パターン認識：シングルピッチおよびマルチピッチのウェーハテストパターンを含む、ウェーハとマスクの両方の欠陥を迅速かつ正確に検出できます。自動メトロロジー測定：自動化されたシステムは、正確な測定が一貫して行われることを保証するのに役立ちます。このツールは、複数の計測特性の自動欠陥検出と特性評価を可能にする高度な計測アセットを備えています。高度なソフトウェア：このモデルには、迅速で信頼性の高いデータ抽出を可能にする最先端のソフトウェアパッケージが含まれています。ソフトウェアはまた、迅速かつ簡単な操作を可能にするユーザーフレンドリーな機能が装備されています。高解像度イメージング：装置は精密な計測のための高度な光学および高解像度イメージング技術を特色にします。これにより、正確な結果が保証されます。複数の測定機能：このシステムは、CD、臨界寸法、オーバーレイ、粗さ、膜厚など、さまざまなパラメータを測定できます。これにより、幅広い用途に対応できます。自動化と統合：マシンは完全に自動化でき、スループットの向上とサイクルタイムの短縮を可能にします。また、幅広い本番環境に統合することもできます。FSML128LC2Cツールは、効率的で信頼性の高いウェーハテストと計測資産です。高度なイメージング、オートメーション、マルチ測定機能を組み合わせることで、正確な結果を迅速かつ確実に提供することができます。したがって、さまざまなウェーハ試験および計測アプリケーションに最適な機器です。