中古 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C #9191116 を販売中
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ID: 9191116
ヴィンテージ: 2002
Film stress measurement system
Wafer bow
Dual ASYST FOUP loaders, 12"
2D & 3D Wafer mapping
Auto dual laser switching for maximum flexibility
Auto thickness measurement
Brooks robot, 017-0266-01
Controller, 002-9400-04
Pre aligner, 017-0266-01
2002 vintage.
FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2Cは、半導体テストウェハの評価用に設計されたウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、高速で可変温度環境で動作し、半導体ウェーハの包括的な分析を可能にします。FSM 128L C2Cは、測定プロセス全体でウェーハの温度、湿度、大気圧を正確に制御し、正確な結果を保証します。FRONTIER SEMICONDUCTOR 128LC2Cは、ウェハテストステージ、測定ステージ、モーターおよび制御ユニットの3つの主要コンポーネントで構成されています。ウェーハ試験ステージは、幅広いサンプル形状、サイズ、材料をサポートし、最大直径128mmまでのウェーハ試験が可能です。測定ステージには、抵抗、電流、静電容量、ブリッジテスト、およびその他の電気メトリックを正確に測定するための光学および電気センシング機能が装備されています。最後に、モータと制御機は、試験および測定段階の動作を制御する責任があり、プログラム可能で自動的なデータ取得とオンボード計測分析を可能にします。FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2Cは、上記のコンポーネントに加えて、ウェーハのソートとモニタリングを改善するさまざまな機能も提供しています。このツールには、インラインウェーハアライメントとソートを容易にするためのカメラとソフトウェアが内蔵されています。また、統合されたデータ分析をサポートし、テストウェーハ上の欠陥部品を識別および分離するために必要なツールをユーザーに提供します。最後に、各ウェーハを個別に測定したサイトに自動セグメンテーションすることで、高精度で粒度の高いデータレポートが可能になります。全体として、FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128LC2Cは、半導体テストウエハの精密なテストを可能にするように設計された、機能豊富で汎用性の高い試験および計測資産です。FSM 128LC2Cは、高速で可変的な温度動作と堅牢なデータレポートおよび分析ツールを備え、一貫した信頼性の高い半導体生産を保証する理想的なモデルです。
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