中古 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 #293595237 を販売中

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128は、小規模な半導体ウェーハでのダイの評価および特性評価に使用されるウェーハ試験および計測機器です。半導体ウェーハに搭載されたダイの電気的、光学的、物理的特徴を測定するツールとしてFSM社が開発しました。FSM 128システムは、カンチレバースタイルのピックアップを使用して、ウェーハの基板にダイを正確に配置します。様々な基材やサイズから個々の金型を検出、識別、測定することができます。また、ダイバーコードを読み取り、詳細なダイキャラクタライゼーション情報を提供します。このユニットは、キャリア移動性、接触抵抗、DC漏れ測定など、さまざまなウェハレベルのテストを実行できます。また、ウェーハ表面を原子スケールで観察できる走査型電子顕微鏡を搭載しており、ウェーハ表面のサイズや距離を詳細に測定することができます。FRONTIER SEMICONDUCTOR 128マシンは、高精度の光学イメージングを備えており、個々のダイの欠陥を正確に見つけ、検査、測定、識別することができます。ウェーハの電気特性、機械特性、光学特性を包括的に分析し、包括的なウェーハ試験および計測ソリューションを提供します。このツールは、テスト機能に加えて、データの保存と結果の分析も可能です。シンプルなユーザーインターフェイスを提供し、簡単にアクセス可能で直感的な操作を可能にします。128は、さまざまなアプリケーションで使用可能な高度なウェーハテストおよび計測資産です。小規模な半導体ウェーハでのダイの評価と特性評価を行うための貴重なツールであり、ウェーハの完全な制御と特性評価を可能にします。