中古品 FRT (ウェハ検査・計測) を販売中

ウェーハ試験および計測機器は、ウェーハの品質と信頼性を確保するために半導体業界において不可欠なツールです。FRT （Fries Research&Technology）は、この分野で高度なソリューションを提供することを専門とする有名なメーカーです。FRTはMicroProfやMicroProf TTV200を含む様々なアナログを提供しています。MicroProfは、粗さ、地形、膜厚、ステップ高などの様々なパラメータを高精度かつ精度で測定できる自動表面計測システムです。MEMS、半導体製造、品質管理などの用途に適しています。一方、MicroProf TTV200は、半導体ウェーハの全厚変動（TTV）を測定するために特別に設計されており、ウェーハの生産における均一性と信頼性を確保しています。これらのシステムに加えて、FRTはCFM （Confocal Focus Measurement）技術も提供しています。CFM （Confocal Focus Measurement）技術は、共焦点顕微鏡の原理を使用して、バンプ、トレンチ、ビアなどの複雑な構造を持つ様々なサンプル表面の非破壊的、高分解像度の測定を測定します。FRTのウェーハテストと計測ユニットの利点は、高精度、オートメーション機能、汎用性、使いやすさにあります。これらの機械は、半導体製造工程で効率的かつ信頼性の高い品質管理を可能にし、ウェーハが必要な仕様を満たしていることを保証します。全体として、FRTのウェーハ試験および計測ツール（MicroProf、 MicroProf TTV200、 CFMなど）は、半導体産業における品質保証のための高度な機能を提供する信頼できるソリューションです。