中古 FOUR DIMENSIONS CV92-A #9256566 を販売中

ID: 9256566
ウェーハサイズ: 6"
ヴィンテージ: 2007
Mercury probe CV mapper, 6" Specification: Capacitance measurement range: 0 to 20 nF Current measurement range: 50 fA to 1 ma C-V Bias available: -100 to +100 V Measurement pulse: 50 mV, 100 mV, 150 mV >20 μs for Ch>1s for Cq Wafer size: From 1 cm x 1 cm square chip to 8” round wafer Probe: Mercury dot (dot area from 2E-5 cm² to 0.8 cm²) Probe return: Through mercury ring wafer back or external connection Compressed dry air: 60 psi minimum Vacuum: 28" Hg minimum Power supply damaged 2007 vintage.
FOUR DIMENSIONS CV92-A Wafer Testing and Metrology Equipmentは、高度な光学、電子、機械的機能を組み合わせた効率的なウェーハ検査および計測のための高度な自動ソリューションです。このシステムは、中央制御ユニット、多数のテストラック、XYZ自動制御プラットフォームで構成されています。4次元評価により、ウェーハの正面と裏面から効果的な測定を行うことで、ウェーハの完全な試験および計測ソリューションを実現します。ユニットの中央制御ユニットには、マシンの設定と機能を直接制御できるグラフィカルユーザーインターフェイスが含まれています。これにより、オペレータは静止した測定結果を監視するだけでなく、ウェーハの完全なテストと計測のための自動スキャンパターンを設定することができます。このツールの自動化により、複数の連続したウェーハを高速かつ正確に測定できるため、機能がさらに向上します。テストラックは、ウェーハの正確で信頼性の高いテストのための繰り返し可能なプラットフォームを提供します。ラックには特別な設計があり、複数のテストツールを高速キャリブレーションで一度にロードおよびテストすることができます。このアセットに使用できるテストツールには、レーザー干渉計、デジタル顕微鏡、原子力顕微鏡、電位計、3次元スキャナーがあります。XYZの自動化された制御エッジ付きプラットフォームは、繰り返し可能で安定したウェーハプラットフォームを提供し、テストラックが複数のウェーハでテストおよび計測タスクを実行できるようにします。シングルウェーハと大規模ウェーハスキャンの両方に適した高精度制御分解能を備えています。プラットフォームは、ウェーハに必要な安定性とモーションコントロールを提供する真空モデルを備えた可動アームで構成されています。プラットフォームにはさらに、ウェーハを識別してマークするカメラが装備されています。FOUR DIMENSIONS CV92Aは、高度な光学、電子、および機械的機能を含む完全なウェーハ試験および計測機器です。独自の設計により、複数の連続ウェーハを測定でき、効率的で信頼性の高いソリューションを提供します。このシステムには、ユニット設定を直接制御するグラフィカルユーザーインターフェイス、特別な設計テストラック、および正確なウエハテストと計測に必要な安定性を提供するXYZ自動化された制御エッジ付きプラットフォームも含まれています。これらのすべての機能により、CV 92Aは最先端のウェーハ試験および計測機となります。
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