中古 FORMULA TT #9101880 を販売中

フォーミュラTTは、ROCK Semiconductor Technologiesが開発したウェハテストおよび計測機器です。SOI、 3D IC、 HBLED、複数の結合ウエハなど、幅広い半導体ウエハ基板に対し、正確で再現性のある高速試験および計測を提供するように設計されています。このシステムは、プローブアンドイメージ（PAI）モジュールと測定モジュールの2つの主要なコンポーネントで構成されています。PAIモジュールは、試験中にプローブチップを正確かつ再現可能に配置します。プローブが試験基板に正確に接触するように、歪みや位置ずれのない高精度な位置決めユニットを備えています。測定モジュールは、実際のテストと計測が行われる場所です。ウェーハ基板の電圧、電流、温度、その他の電気信号を測定します。このモジュールには、これらの信号を分析するための高度なアルゴリズムもあり、高度なパラメトリックテストと測定を行うことができます。このマシンはまた、ツールレベルの診断と制御機能を提供し、精度とパフォーマンスを向上させます。オンラインとオフラインテストの両方を提供し、収量を最大化するための迅速なターンアラウンドを可能にします。複数の基板を1つのアセットで素早く正確にスキャンすることが可能で、大量の半導体製造に最適なソリューションです。また、グラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を搭載しており、操作が容易です。GUIを使用すると、機器の機能や設定に簡単にアクセスできます。また、測定したウェーハデータをいつでもレビューできるデータビューアも備えています。全体的に、TTは大量のウエハテストと計測のための優れたシステムです。高精度・高性能で使いやすく、半導体製造や研究に最適なソリューションです。