中古 FILMETRICS F50-UV #293820449 を販売中
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ID: 293820449
Thin film mapper
Currently non-functional
Wavelength range: 190 – 1100nm
PC.
FILMETRICS F50は、研究開発の専門家に正確な測定を提供するように設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。独自のアルゴリズムと高度なキャリブレーション技術を活用して、単一のパッケージで包括的なウェーハ検査と計測機能を提供します。ハイダイナミックレンジのカラーカメラと高い角度精度を備えており、ウェーハ全体で優れた画像解像度と高精度測定機能を提供します。FILMETRICS F 50は、最新のレーザー回折技術を使用して、最大3。5nmの精度で、500nm以上の特徴寸法を測定します。膜厚、表面形状、屈折率、表面粗さなど、ウエハの様々な反射特性や結晶特性を測定することができます。さらに、インクルージョン、パーティクル、傷、その他の輪郭欠陥などの欠陥解析を最大1ミクロンの精度で実行できます。F50は、GaAs、 Si、およびSiGe基板を含む幅広いウエハ基板を検査できます。ユニークなデュアルセンサーを搭載しており、ユーザーは両方のウェーハサーフェスを同時に検査できます。このツールには、自動画像取得、欠陥分類、統計分析などのさまざまな分析パッケージと追加機能も含まれています。F 50はパワフルなパターン認識機能を備えており、ユーザーは正確で繰り返し可能なテストパターンを簡単に作成できます。また、自動キャリブレーションアルゴリズムを使用して、時間の経過とともにピークパフォーマンスを維持します。この多目的で効率的なウェーハ試験および計測モデルは、さまざまな産業要件を満たすように設計されており、研究者やエンジニアが複雑な製品を正確に設計および製造するのを支援します。FILMETRICS F50を使用すると、ユーザーは迅速かつ信頼性の高い意思決定を容易に行うことができ、最高水準の品質とパフォーマンスを保証します。
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