中古 FILMETRICS F40 #293827754 を販売中

FILMETRICS F40は、半導体ウェーハの検査に高い精度と精度を提供するウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、最先端のロボティクスと革新的な光学および電気技術を組み合わせて、表面粗さ、奥行きのある形態、薄膜の厚さ、その他のさまざまな材料特性を迅速に測定します。このユニットは、ウェーハの実質的なサイズや形状を測定することができ、特に迅速なバッチ処理用に設計されています。機械は2つの基本的な部品から成っています：主要な用具および点検場所。主な資産には、すべてのデータ収集コンポーネント、ソフトウェア、電動ステージ、および光学/電気コンポーネントが含まれています。自動生産環境に統合されるように設計されています。検査ステーションはモデルのセンターピースです。これは、光学および電気パラメトリックテストインターフェイスのフルレンジを含む高度にカスタマイズ可能な高スループット検査プラットフォームです。FILMETRICS F 40はモジュラープラットフォーム上に構築されており、特定のアプリケーションとウェーハサイズに合わせてカスタマイズすることができます。各機器はお客様の正確な仕様に基づいて構築されており、システムを完全にカスタマイズするためにさまざまなソフトウェアパッケージが用意されています。F40は、光導波路分光、スキャンミラー、回折光学、デジタルイメージングなど、さまざまな光学技術によって実現されています。さらに、このユニットは、厚さ測定、表面除去、および画像解析のための電気技術と光学技術の両方をサポートしています。F 40は、ウエハテストおよび計測アプリケーション向けに特別に設計された統合ソフトウェアスイートを搭載しています。このスイートは直感的でユーザーフレンドリーに設計されており、ユーザーは素早く簡単にパラメトリックテストを設定して実行できます。また、データの正確性を迅速に検証するためのさまざまなデータ分析およびクエリ・ツールも含まれています。FILMETRICS F40は、品質保証、信頼性試験、研究開発など、さまざまなウェーハ試験および計測アプリケーションに最適なソリューションです。このマシンのモジュラー設計により、高度にカスタマイズ可能になり、統合されたソフトウェアスイートは広範な機能をさらに強化します。ウエハテストと計測における究極の精度と精度については、FILMETRICS F 40を選択してください。