中古 FILMETRICS F20 #293625658 を販売中

FILMETRICS F20は、精度、精度、およびスループットを最大化するように設計された最先端のウェーハ試験および計測機器です。FILMETRICS F 20は、非常に大きな表面上のサブミクロン測定を可能にする光ファイバー反射計と組み合わせた2軸、自動ステージを備えています。このシステムの高度な光学系と独自のアルゴリズムは、2Dの厚さ測定と3Dトポグラフィーマッピングで優れた速度、精度、精度を提供します。F20は、露出した反射材料を通して光を伝達する原理を利用し、厚さとフィルムの均一性を測定する目的で反射光を正確に測定します。光は、フィルムまたは基板に向けられた光ファイバビームを介して送信されます。光は選択的に表面から反射し、反射光は収集され、分析され、保存されます。このユニットは、0。1nmまでの精度で、大きな表面積（10cm^2を超える）のサンプルを測定することもできます。これにより、フィルム欠陥の識別と評価を迅速かつ幅広い材料に対してより正確に行うことができます。F 20は、オペレータに効率的で正確なデータ収集を提供し、オンラインプロセスの最適化を改善し、歩留まり損失を低減するために設計された印象的なマシンです。コンパクトなデザインと使いやすいインターフェースと2軸、自動化されたステージにより、FILMETRICS F20は実験室と生産ラインの両方の使用に最適です。さらに、FILMETRICS F 20は、5。0mmまでの深さの小さなサンプル寸法を必要とする大きなサンプルサイズをサポートしています。F20は、広い領域でも高精度、精度、精度で厚さ、地形、面粗さを測定します。すべての測定結果は、F 20の大型で読みやすいカラーディスプレイにリアルタイムで表示できます。結果はイーサネットまたはUSB経由で保存および転送することもでき、ユーザーは他のアプリケーションにデータを迅速かつ効率的に転送することができます。ソフトウェアスイートには、サンプルとサンプルの比較やカスタマイズされたレポートなど、さまざまな統計ツールも用意されています。FILMETRICS F20は、フィルム基板および測定面の生産における効率と精度を最大化するように設計された、高度で堅牢で信頼性の高い試験および計測ツールです。FILMETRICS F 20は、効果的な光学資産設計、独自のアルゴリズム、高度なコンピューティング技術を使用して、再現可能な測定、高速、精度を提供します。これらの機能は、モデルの直感的なソフトウェア、オートメーション、大型サンプルのサポートと組み合わされているため、F20はウェハテストと計測に最適なソリューションです。