中古 FILMETRICS F20-UVX #293814728 を販売中

FILMETRICS F20-UVXは、製造後の特性評価からプロセス制御までのアプリケーション向けに設計された強力なウェーハ試験および計測機器です。210nmから1100nmまでの最新の測定システムで、可変焦点、自動斜面、高精度のステップ高さスキャン、高速イメージングなど、幅広い機能を提供します。このユニットは、Windows 10、 Win7、 Win8、 XPプラットフォームと互換性があり、20倍の客観的で特許取得済みの高度な光学系が付属しています。これまでにない精度、再現性、柔軟性を備え、ウェーハやデバイスの物理的および電子的特性を正確に測定できます。F20-UVXは、測定バイアスとエラーを排除する独自の特許取得済み干渉計ツールを使用しています。精密オプティクスにより、非常に小さな機能を正確かつ再現可能に測定でき、非常に高いスループット機能を提供します。FILMETRICS F20-UVXは、最小限の振動でサンプルの動きを正確に制御することを可能にする二軸ピエゾアクティブスキャナで動作します。これにより、計測資産は0。25ミクロンの分解能を達成することができます。さらに、F20-UVXは地形の特徴、表面化学、およびその他の小さな特徴を測定するために使用することができます。FILMETRICS F20-UVXは使いやすく、ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスを通じてわかりやすい分析ツールを提供します。また、高速バッチ処理、低ノイズおよび高ダイナミックレンジのスキャン、絶対ステップ高さ測定、包括的なイメージング機能など、ウェーハテストおよび計測アプリケーション向けの包括的なツールも提供しています。F20-UVXも安全性を考慮して設計されており、干渉を低減し、優れた電気絶縁性を提供するために低EMI電源を使用しています。また、有害物質収集モデルとエアフィルターを一体化しており、実験室での安全な動作を実現しています。全体として、FILMETRICS F20-UVXは、優れた精度、精度、再現性を提供する高度なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、製造後のプロセス制御および特性評価から高度なイメージングおよびトポグラフィ測定までのアプリケーションに最適です。独自の機能、使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイス、統合安全システムを備えたF20-UVXは、幅広いアプリケーションに適した強力で信頼性の高い計測ユニットです。