中古 FILMETRICS F10-RT #293654463 を販売中

FILMETRICS F10-RTは、半導体製造用に特別に設計された最先端のウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、厚さ、平坦度、弓、ワープ、均一性、ドーピングなどのウェーハ材料特性のカスタマイズ可能で再現性のある測定方法を備えており、高精度で信頼性があります。最新のナノ構造技術を活用し、これまでにない計測精度と再現性を実現しています。このマシンは、ウェーハ計測システムで報告されている最も高い再現性の精度を提供し、繰り返し測定の間の変化は0。6％未満です。F10-RTツールはまた、温度の変動と時間にわたって優れた均一性と寸法安定性を提供します。製造環境でのFILMETRICS F10-RTの使用には、歩留まりの改善から研究開発サイクルの高速化まで、多くの利点があります。アセットの優れた精度と再現性により、スループットの向上、スクラップレートの削減、ウェーハの薄型化、ウェーハpatterning,3Dウェーハアセンブリ、ウェーハツーウェーハボンディングなどのアプリケーションのリワークの削減が可能です。F10-RTは、効率を最大化し、結果の開発、分析、解釈に要する時間を短縮するように設計された高性能ソフトウェアスイートを備えています。統合ソフトウェアは、堅牢なモデリングツール、テスト条件の簡単なカスタマイズ、カスタムレポートを迅速に生成する機能を備えた包括的なソリューションを提供します。さらに、FILMETRICS F10-RTは、キャリブレーションや構成の必要性を最小限に抑え、セットアップとメンテナンスを容易にするように設計されています。このモデルには、サンプルスキャンと測定ルーチンを細かく制御するための最適化された調整可能なツールチップも含まれています。F10-RTはウェーハサイズ、材料、試験条件の広い範囲のために設計されており、多くのアプリケーションに適しています。全体として、FILMETRICS F10-RTは高度なウェーハテストおよび計測機器であり、正確で再現性があり信頼性の高い測定を提供し、スクラップと再作業を大幅に削減するように設計されています。このシステムは、半導体製造アプリケーションに最適で、効率を最大化し、結果の開発、分析、解釈に必要な時間を短縮するためのユーザーフレンドリーなソフトウェアスイートを備えています。