中古 FILMETRICS F10-RT-UVX #293825000 を販売中

ID: 293825000
Reflectance / Transmittance thin film measurement system HP Desktop mini-PC Monitor Wavelength: 190 - 1700 nm UV Light source.
FILMETRICS F10-RT-UVXは、ウェーハ表面の均一性、厚さ、および応力の正確かつ一貫した測定を提供するように設計されたウェーハ試験および計測機器です。F10-RT-UVXは、高度な光学部品、電気部品、機械部品を組み合わせて、再現性のある正確な結果を提供します。このシステムは、制御用PC、 UVX-NIR分光計、反射カメラの3つのコンポーネントを備えており、包括的な測定を提供します。PCはプログラムインターフェイスをホストし、さまざまなユニットメニューや設定にアクセスするために使用されますが、UVX-NIR分光計は屈折率を測定し、反射率によって厚さを決定することができます。反射カメラは、ウェーハを検査し、表面欠陥を検出するために使用される画像をキャプチャします。また、Fizeau Interferometerのように、光相シフトを測定して厚さを精度で計算する精度を向上させるための高度な技術も組み込まれています。さらに、このツールはUV光源を使用して、フィルムの光学特性を正確に測定します。これは、膜厚を決定するために不可欠なフィルムの吸収および伝達特性を決定するのに特に役立ちます。迅速な連続で複数の読み取りを行う資産の能力は、その精度とユーティリティをさらに強化します。サンプル測定はウェーハ上の様々な場所で行うことができ、問題の迅速な検出と解決が容易になります。さらに、半導体や太陽光発電など、さまざまな業界のサンプルに対応するために、測定をカスタマイズすることができます。最後に、FILMETRICS F10-RT-UVXは長期使用のために設計されており、優れた信頼性と耐久性を提供します。モデルのコンポーネントは慎重に校正され、再現可能で正確な結果を保証するためにテストされています。また、メンテナンスが容易な設計となっており、維持管理のダウンタイムを最小限に抑えています。結論として、F10-RT-UVXは多目的ウェーハテストおよび計測システムであり、さまざまなアプリケーションに対して信頼性の高い正確な測定値を提供します。高度な光学部品、電気部品、機械部品、および複数の測定値を迅速に取得できるため、ウェーハ測定で一貫した品質と性能を確保するのに理想的な選択肢です。
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