中古 EV GROUP / EVG EVG 40NT #293648725 を販売中

EV GROUP/EVG EVG 40NTは、12〜200 mmのサイズのデバイスを測定できる完全統合されたウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、非破壊的なウェーハテスト、物理測定エレクトロニクス、マイクロメトロロジー機能など、多くの高度な機能を提供します。ウエハテストには、抵抗、静電容量、電圧、電流、温度、充電などのパラメータのナノメトリック解析を容易にするために、幅広い技術リソースを使用しています。この機械は、テストポイントを自動的に指定し、信号の周波数と振幅を制御し、測定結果を直接読み取ることができます。高度な光学リアルタイムイメージングとオーバーレイシステムを使用して、異機種混在デバイスとコンポーネントのパフォーマンスを評価します。高精度のマイクロメトロジー機能を提供するために、このツールはレーザー干渉法に基づく技術のような独自のひずみゲージを採用しています。これにより、ナノスケール構造物の歪みを直接測定することができ、局所構造パラメータ変動を直接可視化することができます。また、超薄型構造をサブミクロン分解能で測定するために、高精度イメージングおよび光学解析を使用しています。このアセットは、最大解像度1。5nmの表面フィーチャーのナノスケール3D地形マッピングも実行できます。EV Group/EVG EV GROUP 40NTモデルには、記述統計、クラスタリング、分類アルゴリズムなど、さまざまな統計計測分析用のソフトウェアリソースも装備されています。これらのリソースは、複雑なデバイスやコンポーネントの迅速な特性評価を可能にし、プロセスバリエーション、歩留まり最適化、欠陥インラインのレビュー可能性などのパラメータの詳細な理解をもたらします。この機器は、幅広い業界のデバイスやコンポーネントのナノメトリック評価のための効率的で簡単に制御されたプラットフォームを提供します。EVG EVG 40NTは、先進的な半導体部品からバイオメディカルインプラント、光学部品まで、ナノスケールの構造や材料を分析するための強力なツールです。このシステムは、大規模な生産をサポートすることができ、品質保証に必要な信頼性の高い正確な測定を提供します。EV GROUP EVG 40NTは、多様な能力と先進技術を備え、現代のエンジニアリングラボにとって非常に貴重な資産です。