中古 E+H METROLOGY MX608 #293659180 を販売中

E+H METROLOGY MX608
ID: 293659180
Wafer measurement system.
E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX608は、ウェーハ試験および計測用に特別に設計されたユニットです。このユニットは、レーザービームがテストする必要がある領域を照らすダイレクトイメージング技術を使用しています。画像はCCDカメラで処理され、オペレータは結果を分析することができます。MX608にはウェーハ計測に最適なさまざまな機能があります。高解像度カメラと光学機器を備えており、正確な測定と分析が可能です。単位はまた厚さ、ゆがみ、および平坦のようなさまざまな特徴を測定できます。また、ウェーハの表面仕上げや欠陥を測定する機能も備えています。E+H METROLOGY MX608は、ウェーハ計測のための強力なツールです。これは、データを迅速に分析し、処理することができます自動取得および分析システムを持っています。単位は検出し、測定し、そして表面の質および欠陥の広い範囲を報告するようにプログラムすることができます。さらに、このユニットは、ウェーハの包括的な分析を提供することができる詳細なレポートを生成する機能を持っています。MX608はまた、距離や接触で測定する能力を持っています。ウェーハデータ分析時に最適な柔軟性と精度を提供します。さらに、このユニットは、さらなる分析とデータ処理のために、任意の外部システムとインタフェースする機能も備えています。このユニットはまた、最大の効率と生産性のために設計されています。使いやすいタッチスクリーンインターフェイスで操作でき、オペレータはユニットを迅速かつ正確にセットアップし、あらゆる処理ジョブを管理することができます。拡張オートメーションマシンにより、ジョブをさらに自動化またはリモート制御できます。要するに、E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX608は、ウェーハテストと計測のために特別に設計された強力で効率的なユニットです。高解像度光学、自動取得・解析、自動化されたジョブ管理、外部システムとのインターフェース機能など、幅広い機能を備えています。さらに、ウェーハを測定する際に最大限の柔軟性と効率を提供します。全体的に、このユニットは、任意のウェーハ計測アプリケーションのための強力なツールです。
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