中古 E+H METROLOGY MX203 #9227878 を販売中

ID: 9227878
Wafer thickness measurement system.
E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX203は、ウェーハの高速かつ正確な測定を提供するように設計された最先端のウェーハ試験および計測機器です。ウエハの厚さ、曲率、傾き、その他の特性を非破壊的に正確に測定するために、光学技術と物理技術のユニークな組み合わせを利用しています。このシステムは、ウェーハの位置決め手段となる2軸電動ゴニオメーターと、測定値をキャプチャして記録する光学センサーからなる独自の設計を採用しています。光学センサは、ウェハの高さプロファイルと曲率を測定する垂直および水平レーザーのペアで構成されています。これにより、ウェハの形状と地形を測定する非破壊的で正確で反復可能な方法が提供されます。測定の精度を確保するために、このユニットにはリファレンスサンプルを使用するキャリブレーション手順が組み込まれています。これにより、周囲の条件に関係なく、正確な測定結果を得ることができます。E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 203には、光学センサーによって取得されたデータを処理し、リアルタイムの分析と結果のグラフィカルな表現を提供する強力な計測ソフトウェアが内蔵されています。これにより、ユーザーは制御されたインタラクティブな方法でウェーハの特性を監視することができます。さらに、E+H METROLOGY MX203には、モーター式の真空サンプルホルダーが装備されており、測定中にウェーハを保護してずれを防ぎ、結果の最高精度と信頼性を確保します。このマシンには、測定に必要な時間を短縮するだけでなく、迅速なセットアップ手順を提供するのに役立つ組み込み機能も含まれています。E+H METROLOGY MX 203は、ウェーハの特性を正確かつ非破壊的に再現可能に測定する高度なウェーハテストおよび計測ツールです。強力な計測ソフトウェア、統合された真空サンプルホルダー、およびキャリブレーション手順により、ユーザーはウェーハのパラメータを迅速かつ正確に測定できます。
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