中古 E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #9234108 を販売中

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-37-Qは、最も要求の厳しいアプリケーションに適合する柔軟性を提供しながら、正確な測定を提供するように設計された強力な自動ウェーハ試験および計測機器です。システムの中心には、高度な8チャネル、37チャネル統合テストおよび計測ステーションがあります。このユニットは、信頼性の高いCCDベースの光学マシンを介して高精度と信頼性を提供します。MX 204-8-37-Qは、高速スキャンとプロセス制御アルゴリズムを利用して、優れた再現性を提供します。このマシンは、さまざまなデバイス構造のクリティカルな寸法、平坦度、CDの均一性など、幅広いパラメータを特徴付けるために使用できます。このツールは、高度なデバイスのトポロジーを効率的に測定し、プロセスの最適化とウェーハ歩留まりの向上を可能にします。その50kHzレーザースキャンは、例外的に広いダイナミックレンジと非常に低いショットノイズレベルで、これまでにないレベルの高速トラッキングを提供します。このアセットは、走査型電子顕微鏡、AFM/SPM、粒子インセル（PIC）二次電子イメージングなどの用途に最適です。E+H METROLOGY MX 204-8-37-Qは、複数のウェハテストおよび測定方法（動的非接触センシング、スキャン、イメージングなど）をサポートするマルチモード動作も備えています。さらに、このモデルは、操作を簡素化するためのオプションの範囲を提供し、ユーザーが自分のニーズに応じて機器を設定することができます機能の広い範囲を提供します。このシステムは、高度な技術を活用して、最高の効率、精度、精度、再現性を提供します。MX 204-8-37-Qは直感的なユーザーインターフェイスを備えており、ユーザーは機械プログラミングの専門知識を必要とせずに簡単にユニットを制御することができます。LabVIEWソフトウェアを使用して、ツールをセットアップする際の高い柔軟性と効率性をユーザーに提供します。結論として、E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-37-Qは、優れた精度と精度を高い柔軟性で提供する自動ウェーハテストおよび計測資産であり、ユーザーは独自のニーズに合わせてモデルを構成することができます。その50kHzレーザースキャン技術、動的非接触センシング、およびイメージングモードは、効率的で信頼性の高い測定ソリューションを提供します。ユーザーフレンドリーなインターフェイスと直感的なソフトウェアにより、迅速で簡単なセットアップと操作が可能です。