中古 E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #9234107 を販売中

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-37-Qは、大規模ウェハの検査および特性評価に使用される高度なウェーハ試験および計測機器です。このプラットフォームを使用すると、ウェーハ上の欠陥や汚染物質、および基礎となるインタフェースの特性を迅速かつ正確に検出および分析することができます。このシステムには、光学顕微鏡と統合された超精密測定技術が組み込まれており、さまざまなウエハサイズの正確な測定が可能です。オプティカルユニットは自動フォーカスマシンと自動キャリブレーションを採用しており、正確で信頼性の高い読み取りが可能です。また、最大100倍の倍率を測定することができ、あらゆる種類のウェーハに適しています。データは、マシンビジョンシステム、計測ソリューション、デジタルイメージングシステムなどの幅広いデバイスと接続できるデータ収集モジュールで収集されます。この測定技術は、正確な結果を提供し、円形精度は0。02 µm、位置決め精度は0。2 µmです。また、サイズ300mmまでのウェーハを含むあらゆるサイズのサンプルを複数取り扱うように設計されており、最小のウェーハでも正確な測定・解析が可能です。MX 204-8-37-Qには、ユーザーフレンドリーなインターフェイスと、簡単なデータ収集のための直感的な資産が含まれています。GUIを介して、ユーザーはデータ収集プロセスを監視し、パラメータを調整することができます。Windows、 Mac OS X、 Linuxなど、ほぼすべてのコンピュータシステムと互換性があります。このモデルはUSBおよびイーサネット接続にも対応しているため、ユーザーはネットワーク上の機器やその他の機器と簡単に通信できます。E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-37-Qの強力な性能と高速解析機能により、あらゆるウェハテストおよび計測環境に最適です。この機器は、既存の測定ネットワークに容易に統合され、信頼性の高いウェハレベルの測定と特性評価のための信頼性の高いデータを提供します。