中古 E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #9234106 を販売中

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-37-Qは、ハイエンドウェーハの製造および検査用に設計されたウェーハ試験および計測機器です。ピット、傷、その他の表面の凹凸など、ウェーハ表面の幅広い欠陥や不一致を検出できる高度なソフトウェアアルゴリズムを備えています。このシステムは、ウェーハ上のクリティカルポイントの悪い画像を検出することもできます。E+H METROLOGY MX 204-8-37-Qは、デュアルサイドスキャンユニットヘッドを備えており、ウェハの両側を独立してスキャンできます。また、高分解能の表面測定精度0。0001ミクロンの高出力レーザーを搭載しています。各機能により、有限能力解析、ゲージ可変測定、プロセス能力解析、および幅広いアプリケーションにわたるプロセス制御を正確に適用できます。E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-37-Qには、動的で有能なマシンになるさまざまな高度な機能が搭載されています。これには、表面計測データの高度な分析と統計評価を可能にする強力な解析ソフトウェアが含まれています。また、ウェーハ表面に金属やその他の不純物、汚れ、または粒子によって引き起こされる欠陥で画像を整流するための修復ツールを備えています。さらに、生産プロセスの追跡と制御を可能にし、ユーザーが欠陥を特定して最小限に抑えることができる生産管理ソフトウェアが付属しています。さらに、E+H METROLOGY MX 204-8-37-Qは、手動および自動ウェハハンドリングを容易にし、最適な柔軟性を実現します。ウェーハの位置決めや積み込みのためのロボットのような作業調整装置が付属しています。また、温度監視ツールと3D翻訳ステージを備えており、正確で効率的な検査と測定を提供します。E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-37-Qは、優れたウェーハ検査および計測機能を提供し、最高レベルのウェーハ生産および検査を可能にします。高度なソフトウェアアルゴリズム、デュアルサイドスキャンアセットヘッド、強力なレーザービーム、生産制御ソフトウェア、手動/自動化されたウェーハ処理機能、温度監視モデル、および3D変換ステージを利用して、従来の検査方法の精度を超えて、ウェーハ表面の欠陥や不一致を検出および修正することができます。