中古 E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #293813904 を販売中

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-37-Qは、ウェーハ試験および計測に適した高度な非接触型3D計測システムです。超高解像度3D計測装置で、レーザースキャン共焦点技術を使用して、高精度な結果を提供します。この装置は、ナノメートルレンジの構造と表面の特徴を優れた精度で測定するように設計されています。ハードウェアとソフトウェアを組み合わせたE+H METROLOGY MX 204-8-37-Qは、非常に高い解像度で表面全体をスキャンすることができます。この装置は、厚さ、表面形状、粗さの測定、および高解像度の単点測定を行うことができます。また、インクルージョンや毛穴などの不規則性を検出したり、ウェーハパターンのパターンを測定したりすることができます。E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-37-Qには、複数の位置決めデバイスがあります。これらには、スキャンヘッド下の電動X軸、500mmまでのスキャン用のYステージ、およびYステージよりも高い大きな構造物のスキャンを可能にするZステージが含まれます。さらに、高解像度ビデオ顕微鏡を搭載した光学ズームレンズを搭載し、極めて精密なスキャンが可能です。さらに、E+H METROLOGY MX 204-8-37-Qは自動焦点機能を備えており、あらゆる深さで信頼性の高い安定した測定を保証します。また、ユーザーフレンドリーなソフトウェアも提供しており、ユーザーは迅速かつ簡単にシステムをセットアップし、ニーズに合わせてカスタマイズすることができます。さらに、このソフトウェアは強力な分析機能を提供し、ユーザーは表面と構造条件についての詳細な情報を得ることができます。全体として、E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-37-Qは、ウェーハやその他の非常に小さな複雑な構造や表面の非接触3D測定に最適です。オートフォーカス機能と強力なソフトウェアを組み合わせた高解像度スキャン機能により、ウェーハテストと計測に最適です。