中古 E+H METROLOGY MX 204-8-25-Q #9227071 を販売中

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-25-Qは、さまざまな製造用途に使用されるウェーハの正確な測定を提供する最先端の機器です。このシステムには、さまざまな方法で使用できる多機能プラットフォームが装備されています。このユニットは、厚さ、平坦度、曲率、粗さ、傾きなどのウェハの物理的特性を測定および分析するように設計されています。E+H METROLOGY MX 204-8-25-Qには、正確で正確な測定を可能にするさまざまな技術が搭載されています。ウェーハの表面の輪郭を測定するのに干渉検出機械が使用されています。この精密な技術は、表面のわずかな増分変化を測定し、ウェーハの地形を正確に表現することもできます。E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-25-Qはまた、ウェハの厚さを非常に正確に測定できる特殊な光学プロービングツールを使用しています。このアセットは、厚さ、均一性、凹凸、曲率、傾きなど、ウェハの物理的特性に関する広範なデータを収集することができます。さらに、マルチフォーカスイメージングウィンドウを使用して、ウェーハの画像を極端に詳細にキャプチャすることもできます。このモデルには、テストと計測プロセスを大幅に簡素化する自動およびソフトウェアベースの機能も多数搭載されています。この装置は、手動入力を最小限に抑えて複数のウェーハを連続して測定する機能を備えています。ソフトウェアシステムを使用して、結果のデータを保存し、所定のパラメータに従って自動的に分析することもできます。E+H METROLOGY MX 204-8-25-Qは、正確な結果を保証できる高性能ユニットです。高度な技術と自動化された機能の組み合わせにより、高度なウェーハテストと計測機械をお探しの方に最適です。