中古 E+H METROLOGY MX 203-8-37-Q #9234105 を販売中

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 203-8-37-Qは、半導体プロセス工学で使用するために特別に設計された高感度で精密なウェーハ試験および計測機器です。光沢のあるブラック仕上げの頑丈なデザイン、ユーザーインターフェイス用のディスプレイモジュール、異なるパラメータをテスト/測定するための8軸/センサーを備えたレイヤーエレクトロメータシステムを備えています。さらに、幅広いウェーハ試験および計測測定において、卓越した精度と再現性を提供するように設計されています。METROLOGY MX 203-8-37-Qは、最大8インチウェーハスケールの集積回路をテストすることができます。これには、さまざまなウエハ、基板、ダイオード、およびプログラム固有のパラメータを分析および管理できる高度なソフトウェアプログラムが含まれています。METROLOGY E+H METROLOGY MX 203-8-37-Qは、テスト機能に加えて、さまざまな強力なキャリブレーション、診断、分析機能も提供します。多軸フィードバックユニットとキャリブレーション解像度1000 A/Dステップを備えています。これにより、さまざまな測定に最適な精度と再現性が保証されます。METROLOGY MX 203-8-37-Qは、半導体業界の厳しい要件を満たすように設計されています。それは環境から敏感な部品を保護するために耐久の、非反射性アルミニウムボディと組み立てられます。また、25°C〜80°Cの温度変動や振動レベルの変化にも対応可能です。さらに、最大限の安全と保護を確保するために、消火装置や電磁干渉フィルターなど、EMCの放射線を制限するための多数の組み込みの安全システムが装備されています。全体として、E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 203-8-37-Qは、信頼性の高い結果を提供するように設計された非常に効率的で正確で信頼性の高いウェーハ試験および計測機です。堅牢な構造、組み込みの安全システム、多彩な機能により、幅広い半導体プロセス工学アプリケーションに最適です。