中古 DNS / DAINIPPON VM-2010 #9399111 を販売中

DNS/DAINIPPON VM-2010は、半導体メーカー向けに設計されたウェハテストおよび計測機器です。洗練された光学、電気、化学測定を使用して、トランジスタ、接点、相互接続など、さまざまな半導体を評価します。このシステムは、ウェーハパラメータ測定、ウェーハレベルテスト、ウェーハ表面計測、欠陥検査など、さまざまなテストを実行します。パラメータ測定には、位相シフト干渉計、明るいフィールドイメージング、および電圧技術を組み合わせて使用します。ウェーハに接触することなく電気測定を行うことができ、高精度な結果を得ることができます。この機械は高精度であり、定性分析と定量分析の両方を可能にします。色やテクスチャなどの定性パラメータを測定および記録する機能により、メーカーは自社製品の特性を包括的に把握できます。ウェーハ表面計測の場合、DNS VM-2010は自動サンプリングツールを使用してウェーハの地形パラメータを測定します。これにより、表面粗さ、傾き測定、および線幅を可能にします。このアセットは、ウェーハ表面の欠陥を検出することができます。ウェーハレベル試験も可能で、ウェーハ上の構造全体の測定と特性評価が可能です。これは、構造を化学的および電気的プロトコルに公開し、次に電流密度、状態の密度、時間定数などのパラメータを測定することによって行われます。DAINIPPON VM 2010は、幅広いテストと測定を提供しています。半導体製品の設計と製造に関する情報に基づいた意思決定を行うために使用できる高精度で信頼性の高いデータを提供します。この装置はまた、急速な業界で競争力を維持する必要がある製造業者に低コストのソリューションを提供します。