中古 DNS / DAINIPPON VM-2010 #9158763 を販売中

DNS/DAINIPPON VM-2010は、半導体ウェーハの測定において優れた精度と精度を得るために設計された高度なウェーハ試験および計測ツールです。高速パターニング測定のための完全自動化ソリューションを提供し、高いスループットと高精度を保証します。このユニットは複数の個別に調整されたモジュールで構成されており、それぞれに特定の測定操作（計測、ダイピックアップ、ウェーハトランスポート）が割り当てられています。完全に自動化されたウェーハテストと計測システムは、3次元（3D）スキャンプローブを介して測定を行い、レーザービームを使用して特性評価を行います。次に、測定したサンプルをダイピックアップモジュールに移動して、ダイをピックアップしてウェーハキャリアに取り付けます。最後に、処理中のサンプルを計測ユニットに輸送します。この計測ユニットは、ウェーハ上の信号情報を平坦性と欠陥を評価します。これらのモジュールはすべてオペレータの利便性のために完全に自動化されており、正確な再現性と再現性を達成することができます。装置は非常に機敏で堅牢であるように設計されており、ユーザーは変化する条件にすばやく適応することができます。システムのモジュール性により、マイクロリソグラフィ検査や欠陥検査など、さまざまな測定に簡単に対応できます。このツールは、製品の完全性を妨げることなく、迅速かつ信頼性の高い測定を提供することができます。つまり、敏感または歪みやすいものを含む、さまざまな基板上の測定にも使用できます。このユニットはWindows XPで動作し、ユーザーフレンドリーなグラフィックインターフェイス、複数の測定を行うためのポンプフィラメントモード、幅広い適用性、高速なソフトウェアアップグレード、さまざまなインターフェイスを介した接続などの広範な機能を提供します。このマシンは、あらゆる半導体ウェーハ試験および計測ニーズに対応する包括的で柔軟なオプションを提供します。また、データのスキャンやバイナライズを行いながらノイズを積極的に低減する独自の「アクティブモチベーションテクノロジー」により、極めて高いツール解像度と精度を実現しています。この技術により、プロービング感度と再現性が向上し、ウェハテストおよび計測アプリケーションで非常に高い歩留まりを実現できます。全体として、DNS VM-2010は高度で精密なツールであり、さまざまな種類のウェーハテストおよび計測ニーズに対応するオールインワンの自動ソリューションを提供します。高度な3Dスキャンプローブとアクティブモチベーションテクノロジーにより、高速で高精度な測定が可能で、優れた再現性を備えているため、さまざまな試験および計測プロセスにおいて信頼性が高く費用対効果の高いソリューションとなります。