中古 DNS / DAINIPPON VM-2010 #293711624 を販売中

DNS/DAINIPPON VM-2010は、半導体製造用に設計されたハイエンドのウェーハ試験および計測機器です。加工ウェハ上の表面欠陥、接触抵抗、3D深度変数を高精度に評価・検査することができます。また、チップ密度などのパラメータを詳細に分析し、最適な性能で高品質な製品を製造することができます。DNS VM-2010は4つの主要コンポーネントで構成されています。1つ目は、様々な角度から光を照らし、分析するために使用される光学モジュールです。透明なサンプルステージを使用して、欠陥のサイズ、深さ、位置などの特徴を測定します。2つ目のコンポーネントは、接触抵抗データを収集するプローブユニットです。このデータはRAMの第4セットに転送され、整理されて分析されます。3番目のコンポーネントはDetector （APD） Machineで、フォトメトリック画像データをキャプチャし、分析に使用するRAMに転送します。最後に、4番目のコンポーネントは、各分析中に収集されたデータを整理し、解釈するソフトウェアツールです。大日本VM 2010は、長寿命で信頼性の高い資産です。200°Cまでの温度に耐え、ESD （Electro-Static Discharge）に対応しています。最適なモデル性能を確保するために、装置は定期的に校正され、30日稼動した後に再び校正されます。DNS VM 2010は、迅速かつ正確なウェーハテストと測定結果を提供し、品質保証を向上させ、市場投入までの時間を短縮します。半導体デバイスの大規模生産や、限定ウェハの製作に適しています。このシステムを活用することで、メーカーは最適なデバイス性能、製造コストの削減、利益の増加を達成することができます。