中古 DNS / DAINIPPON Lambda Ace VM-2200 #293664930 を販売中

DNS / DAINIPPON Lambda Ace VM-2200
ID: 293664930
ウェーハサイズ: 4"
Film thickness measuring system, 4".
DNS/DAINIPPON Lambda Ace VM-2200は、半導体材料とその埋め込み特性を測定および分析するために使用されるウェーハ試験および計測システムです。VM-2200にはマルチゾーン電子顕微鏡と高度なイメージングツールが搭載されており、半導体ウェーハの厚さと地形を正確に測定することができます。さらに、この技術により、材料の電気的特性を正確に判断し、汚染レベルや粒子を検出し、ウェーハのドーピングを分析してプロセスの不規則性を特定することができます。このVM-2200には、半導体デバイスの詳細な解析と評価を行うために、0。3 μ mの全分解能を備えた高精度測定装置が装備されています。これは、低遅延の検索と高品質のグラフィックス出力を提供する大容量のPCを搭載しています。このシステムには、レーザー干渉計システム、スキャン容量顕微鏡システム、光放射およびX線分光システムなど、カスタマイズされた試験アプリケーション用のオプションのアクセサリも含まれています。このVM-2200は、ハイエンド半導体加工の厳しい要求に応えるように設計されています。どのような環境でも一貫した再現性のあるウェーハ解析結果を生成でき、自動解析機能によりユーザーエラーのリスクを低減します。さらに、そのユーザーフレンドリーなソフトウェアは使いやすく、ユーティリティやオプションの広い範囲を提供しています。このVM-2200には、ウェーハテストと計測性能を向上させるための多数の追加機能が装備されています。振動を低減するエアダンパーを内蔵し、精度と解像度を向上させるモーター付きオートフォーカスを搭載しています。さらに、高度な信号処理アルゴリズムにより、低線量まで測定し、材料特性の非常に小さな違いを検出することができます。全体的に、VM-2200は、ラボおよび産業用アプリケーションに優れた精度と分解能を提供するように設計されたフル機能のウェーハ試験および計測システムです。高解像度の可視化と自動解析機能を組み合わせることで、欠陥や不規則性を特定しながら、各ウェハが正確で信頼性の高い結果を生み出すことができます。
まだレビューはありません