中古 DAVIDSON D 665-107 #293610069 を販売中

DAVIDSON D 665-107は、半導体デバイスパラメータの測定に使用されるウェハテストおよび計測機器です。ダイ、ウェーハレベル、アクティブおよびパッシブ部品の自動測定を、シリコン、ゲルマニウム、ガリウムヒ素などのさまざまな材料で提供します。それは自動エッジ検出とテストポイントの範囲とジオメトリの組み込みライブラリを持っています。また、光学モニタリングユニットを搭載し、寸法測定や自動配置最適化を行うことができます。半導体プロセスと測定条件の広い範囲で動作するように設計されており、低ノイズおよび熱管理により、損失と不要な寄生加熱を低減します。大小のデバイス比較のための高速ウェハマッピングを提供します。このツールは、波長散乱計（SWS）ウェーハメトロロジーアセットを使用して、各デバイスの位置と形状、および材料パラメータとグローバルパターニングを取得します。このモデルには、プロファイル測定用の2軸スキャンイメージングおよび位相シフト白色光干渉計（PSWLI）が含まれており、局所特徴データ、プロファイルデータ、および全体的な特徴などのさまざまなパラメータを測定することができます。また、表面粗さ、プロファイル誤差、材料特性などのデバイスパラメータの高度な分析も提供します。この装置は自動ウェーハ処理用に設計されており、自動化されたプローバーおよびハンドラー、自動プローブムーブメント、印刷ソリューションなど、他のツールや機器と統合することができます。非接触式ウェーハ検査および超精密測定機能を提供します。システムは特定のソフトウェアパッケージと組み合わされ、異なる接続ソリューションを提供します。D 665-107は、高速プロトタイピングと高速開発にも使用でき、高精度で高解像度です。DRAM、フラッシュ、アプリケーション固有のロジックなど、複数の組み込みシステムを備えており、効率的な運用を実現しています。このユニットは、困難な環境でも信頼性が高く高速な結果を保証するインテリジェント制御技術の恩恵を受けています。この機械は、特殊な計測機能を備えており、高い精度で幅広い材料を正確に測定するために使用される強力で信頼性の高いツールです。