中古 DATACOLOR Elrepho 2000 #293585608 を販売中

DATACOLOR Elrepho 2000は、フラットおよびカービリニアコンポーネントの両方の精密測定および特性評価を提供するように設計されたウェーハ試験および計測機器です。半導体プロセス制御、品質保証、故障解析のための費用対効果の高いソリューションです。このシステムは、プラットフォームの中心にあるコンパクトなデジタルイメージングユニットである高度なElrepho 2000イメージング分光光度計に基づいています。分光光度計は、最大400nmから700nmの広い測定範囲を有し、機械は広い領域を迅速かつ正確に測定することができます。DATACOLOR Elrepho 2000は、高解像度13メガピクセルのカメラを搭載し、詳細な画像を高速にキャプチャします。これにより、焦点面や構造物の正確かつ再現性の高い測定が可能になり、3D測定や検査に最適です。さらに、このツールには、サンプルの正確な特性を評価するためのさまざまな分析および目視検査機能が含まれています。画像反転、グレースケール変換、波長追跡、強度追跡、コントラスト調整などの機能により、結果が正確で反復可能であることが保証されます。また、オブジェクト認識および分類アルゴリズムを備えており、コンポーネントを容易に識別および測定できます。Elrepho 2000はさまざまなソフトウェアツールでサポートされており、ユーザーは特定のアプリケーション要件に合わせて測定機能を調整できます。また、粒子サイズや形状解析、表面プロファイル測定、曲率解析半径、光学歪み解析、欠陥検出などの高度な解析機能も提供しています。一貫した信頼性の高いパフォーマンスを確保するために、アセットはメンテナンスと校正を容易にするように設計されています。統合されたオープンなアーキテクチャプラットフォームにより、モデルの柔軟なカスタマイズが可能になり、ユーザーは特定のニーズに合わせて機器の機能を拡張することができます。結論として、DATACOLOR Elrepho 2000は非常に汎用性が高く、費用対効果の高いウェーハ試験および計測システムです。幅広い測定・解析機能により、プロセス制御、品質保証、故障解析のための完全なソリューションを提供します。