中古 CHAPMAN MP2000+ #9394595 を販売中

CHAPMAN MP2000+は、CHAPMAN Engineeringによって開発された、ウェーハテスト、サンプルモニタリング、ラボ研究など、半導体業界における幅広い用途向けの高度な計測およびウェーハ試験装置です。このシステムは、製造プロセス中に半導体ウェーハの特徴を測定する効率的な高分解能ソリューションを提供します。このユニットは、洗練されたハードウェアとソフトウェアコンポーネントを組み合わせた完全自動化されたステージで構成されています。また、高解像度のCCDセンサーを搭載しており、正確な画像キャプチャが可能です。このマシンは強力な画像処理機能を備えており、優れた試験結果を提供します。これは、正確なサンプルマッピング、アライメント、および登録を確実にするために高速電動ウェーハチャックを装備しています。これらの機能に加えて、このツールは高度なソフトウェアアルゴリズムの恩恵を受けており、複数のサンプルタイプの正確な計測およびウェハテストを可能にします。MP2000+は、温度変動、湿度、大気汚染などの困難な環境条件に耐えるように設計されています。これにより、現場および本番環境での信頼性の高いサンプリングが保証されます。アセットの大きな作業エリアは、最も要求の厳しいウエハテスト要件にも適しています。このモデルには、3Dエッジ検出、粒子画像解析機能、および強力な統計解析ツールを含む高度なスキャンソフトウェアが装備されています。これにより、データの詳細な分析と、ウェーハのパフォーマンスを文書化するレポートの生成が可能になります。ソフトウェアはまた、ユーザー自身の分析または後処理によって得られたグラフィカル結果を含むようにカスタマイズすることができ、包括的なグラフィカル出力をユーザーに提供します。CHAPMAN MP2000+は、信頼性、精度、柔軟性を兼ね備えたウェーハ試験アプリケーションに最適なソリューションです。高解像度CCDセンサーと強力な画像処理機能により、ウェハテストにおいて高い精度を必要とするアプリケーションに最適な機器です。さらに、完全に自動化されたステージおよびソフトウェアアルゴリズムは、高いスループットと柔軟性を提供します。