中古 CHAPMAN MP2000+ #9207198 を販売中

CHAPMAN MP2000+は、CHAPMAN Instrumentsがさまざまな業界で使用するために設計した高度なウェーハ試験および計測プラットフォームです。この汎用性の高いプラットフォームは、ウェハサイズ、厚さ、表面インデックス、傾斜角度の広い範囲をテストして測定するために使用することができ、現代の半導体製造プロセスの不可欠な部分となります。MP2000+装置はCHAPMANの有名なMAPLE™プラットフォームに基づいており、信頼性が高く、高速で繰り返し可能なウェーハテストと計測を提供します。このシステムは、さまざまなウェーハ特性とパラメータを迅速かつ正確に測定するように設計されています。単位は厚さ、表面の索引、ドーピングのレベルおよび傾きの角度を含む光学、電気および機械特性を、測定できます。最小オーバーヘッド時間は10秒未満で、CHAPMAN MP2000+は、1回のバッチ実行で18個のシリコンウェーハをテストすることができます。また、このマシンは事前に校正され、使用可能な状態になっているため、追加の校正手順は不要です。MP2000+は、PCI-Express技術を備えた高速インターフェースを備えており、ツールと他の機器との間で迅速なデータ転送を可能にします。また、硬化アルミニウムフレームから構成され、高い振動周波数に耐えられるように設計されており、衝撃レベルの高い環境で使用することができます。このプラットフォームには、CHAPMAN独自のSixtyEqualizer™技術も搭載しており、手動補正や調整を必要とせずに非常に正確な自動測定を提供します。これにより、結果は常に正確で信頼性が高く、繰り返し可能であることが保証されます。さらに、このプラットフォームには、自動分割、分割診断、直感的なメニュー駆動のユーザーインターフェイスなど、いくつかの高度な機能があります。CHAPMAN MP2000+は、最も要求の厳しい半導体製造環境でも、優れた性能と信頼性を提供するように設計されています。このモデルは操作が簡単で、最高の生産歩留まりを確保するために必要な高精度、再現性、および費用対効果を提供します。