中古 CHAPMAN MP2000 #9106124 を販売中

CHAPMAN MP2000 Wafer Testing and Metrology Equipmentは、最高レベルの製造精度と性能を確保するために、ウェーハテストと計測を実行するために設計された高度で自動化されたシステムです。高精度で再現性のあるウエハのラボグレード計測試験用の超高精度非接触測定ユニットを提供します。MP2000は、ウェーハテーブル、電動ポジショナー、計測マネージャを含む統合マシンです。ウェーハテーブルは、さまざまなサイズと厚さの最大20ウェーハをサポートします。電動ポジショナーは、均一な光検査のための固定光学ヘッドの下にウェーハを正確かつ再現可能に配置することができます。計測マネージャを使用すると、モーター付きポジショナーと光学ヘッドの動きを自動的に制御および同期できます。CHAPMAN MP2000は、高精度の計測を提供するために、いくつかの高度な技術を備えています。5倍〜50倍のダイナミック倍率を実現する光学顕微鏡と、10ビットRGB CCDカメラを搭載し、高解像度の画像を撮影します。MP2000はまた、1/200mmの精度で反復可能な非接触測定を生成するために、高度な特許取得済みの反射率補正技術を備えています。CHAPMAN MP2000の直感的なユーザーインターフェイスにより、計測テスト手順が簡素化され、ユーザーはウェーハの複数の領域を数分で測定できます。ユーザーフレンドリーなソフトウェアにより、プログラミング、操作、分析がこれまで以上に簡単になり、このツールの拡張性により、ユーザーは要件の変化に応じて資産を成長させ、カスタマイズすることができます。MP2000は、包括的なグローバルサービスとサポートとともに、完全なデータトレーサビリティ、再現性、正確性を提供します。ウエハテストの業界標準に適合しており、半導体およびオプトエレクトロニクス業界における品質保証のための貴重なツールです。