中古 CDE RESMAP 273 #293827097 を販売中

CDE RESMAP 273は、半導体ウェーハの正確で信頼性の高い測定を提供するために特別に設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、光干渉を使用して、ナノメートルレベルの解像度で高精度な地形図を作成するとともに、表面粗さ、粒子、熱整合性、欠陥、およびその他の重要なパラメータの自動解析を提供します。高度に統合されたユニットは、5〜300mmのさまざまなウェーハサイズで、複数のウェーハを同時に自動テストおよび分析することができます。RESMAP 273の測定機能は、2つの異なる運用レベルに分かれています。最初の自動スキャンにより、マシンは単直径モードと全直径モードの両方で高忠実度のポイントツーポイント地形マッピングをキャプチャできます。自動化されたパターン認識により、測定データは手動手法の最大400倍の速度で取得され、詳細なピクセルレベルの情報が得られます。2番目の運用レベルである自動解析により、乱視、残留範囲と偏差、膨らみ補正、平坦性、裏面検査、局所不規則性などの高度な測定が可能になります。インテリジェントなアルゴリズムと専用ソフトウェアを通じて、これらのパラメータはそれぞれ正確に表現され、さらなる研究のために数分で利用可能になります。また、CDE RESMAP 273は接続機能を強化し、欠陥レビューツール、C2Oソフトウェア、SEMトレースビューア、CD、 OCRシステムなどの他の互換システムへのデータのシームレスな転送を保証します。さらに、このツールは最大限のリモートアクセス機能を提供するように設計されており、便利で安全なデータ転送、制御、およびリモートサイトとの統合を可能にします。さらに、この資産は、2つのレーザーと独自のオプトマスクを使用してモデル性能ドリフトを検出する特許取得済みの光学校正プロセスを利用しています。これにより、偽のデータレポートが発生しなくなり、各アプリケーションの正確性と信頼性が保証されます。全体として、RESMAP 273は、精度、速度、接続性、拡張性を提供する強力なツールです。高度な機能と自動化された構造により、半導体メーカーや専門家がウェーハのテストと計測性能を最大限に引き出すことができます。