中古 CDE RESMAP 273 #293818767 を販売中

製造業者
CDE
モデル
RESMAP 273
ID: 293818767
Mapping system Accessory box: resistor pack, probe head (type F) SECS (Semiconductor Equipment Communication Standard) communication protocol Auto vacuum chuck PC Operating system: Windows XP Missing parts: Monitor Keyboard Mouse Notch sensor.
CDE RESMAP 273は、製造プロセス中にウェーハの品質を測定するために設計された最先端のウェーハ試験および計測機器です。高精度で自動化されたウェーハ検査システムと、可視光スペクトルと近赤外線スペクトルの両方でウェーハを集中的に分析できるカスタムビルドのセンサーを備えています。また、ウェーハ構造の微妙な変形を検出して分析することができ、製造プロセス全体で一貫した品質管理を実現します。RESMAP 273は、精密工学と高度なコンピュータビジョンアルゴリズムの組み合わせを利用して、ウェーハ計測データを分析します。統合されたステレオカメラユニットは、高解像度のイメージングと卓越した深度知覚を組み合わせ、強力なソフトウェアにより、1枚の画像で最大8枚のウェーハを同時に測定できます。CDE RESMAP 273では、3Dサーフェスマッピング、粒子汚染検出、およびフルレンジ2D計測解析も可能です。このデバイスには、ウェーハの高速で正確なロードとアンロードを提供する自動ウェーハローディングマシンも装備されています。このツールは、さまざまなウェーハサイズと複数の厚さに対応するように設計されています。ローディングアセットにはオートフォーカスモデルも装備されており、検査中にウェーハが検査ヘッドと一定の接触を保つことができます。RESMAP 273は、信頼性の高い結果を保証するために、測定プロセス中の傷を除去する統合スクラッチ検出装置で設計されています。このシステムは、焦点面から傷を付けた表面をすばやく検出して除去するように設計されており、正確な計測結果を保証します。要するに、CDE RESMAP 273は、ウェーハ製造の品質を監視および分析するための革新的な計測ツールです。最先端の精密工学、高度なコンピュータビジョンアルゴリズム、自動ロードおよびアンロード機構を組み合わせたRESMAP 273は、ウェーハの計測時に高い精度と効率を実現します。
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