中古 CDE RESMAP 273 #293778134 を販売中

CDE RESMAP 273は、電子材料およびデバイスの分析および評価用に設計された最先端のウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、複数のサンプルに対して複数のテストと計測操作を同時に実行します。直径8インチ未満のウェーハで動作し、32 nmまでの機能をテストできます。このユニットは、曲げマグネット粒子ビームシステムのペアに取り付けられた特殊な4軸ツールホルダーを使用しています。このセットアップにより、サンプルの検査および測定時に高解像度と精度が保証されます。パーティクルビームシステムは、検出器、レンズ、ミラーなどの光学部品を収容し、X線蛍光、回折、散乱試験を行うために使用することができます。光学部品には電動制御機が搭載されているため、レーザー出力やビームアライメントなどの計測パラメータを簡単に調整できます。さらに、電動工具には、最も一般的に使用されるスポットサイズ補正を省略できる機能があります。この資産には、計測操作ツールのスイートもあります。ナノメートルスキャン（100nm解像度まで）、分光法（光吸収・機械応力測定）、顕微鏡イメージング（地形特性検出）などがあります。テストと計測操作の結果は、付属のソフトウェアで分析することができます。このソフトウェアは、数値およびグラフィカルな分析とデータエクスポート機能を提供し、ユーザーがサンプルをさらに評価できるようにします。簡単な学習曲線を備えた直感的なユーザーインターフェイスを備えているため、ユーザーはすぐに学習してモデル操作に熟練することができます。さらに、機器は最小限のメンテナンスを必要とするため、ほとんどの研究所に簡単にアクセスできます。全体として、RESMAP 273は研究室のために設計された高度なウェーハ試験および計測システムです。その一連の精密操作ツールと正確な分析機能は、電子材料やデバイスの詳細な分析と評価に最適なツールです。