中古 CDE RESMAP 273 #293751606 を販売中

CDE RESMAP 273は、研究者、大学、その他の産業環境向けに特別に設計されたウェーハ試験および計測機器です。自動化された試験、計測、画像処理機能を提供し、さまざまな半導体デバイス試験の精度と速度を向上させます。主な作業プラットフォームは、マッピングソフトウェアと結合した多層光学シミュレーション（MOLS）ステージです。MOLSには、ミクロンレベルの精度でデバイスの正確な位置決めを可能にする一連のステージが含まれています。このコントローラを使用すると、ウェーハ表面全体のデバイスを正確にテストし、高精度で高解像度の画像を得ることができます。RESMAP 273は、電気試験、発光イメージング、3D元素解析など、さまざまな試験オプションも提供しています。電気試験は、潜在的な結晶欠陥を識別するために使用され、正確な遅延制御、漏れ電流試験、故障測定を備えたオンウェーハ非破壊電流/電圧測定などの機能が含まれています。光発光イメージングシステムは、デバイスの欠陥を検査するために使用することができます。3D元素分析装置は、高分解能イメージングとエネルギー分散型X線分光法（EDS）を組み合わせてデバイスの化学組成を分析することができます。CDE RESMAP 273は、線幅、解像度、フィーチャサイズ、その他のデバイス特性などのデバイス特性を識別できる画像処理機能も備えています。これらの機能により、研究者は詳細な特性情報を取得し、デバイスの理解を深めることができます。また、RESMAP 273は、市販の他のウェーハテストシステムと比較して、優れた精度と速度を提供するように設計されています。ウェーハの自動位置決めや高速読み出し速度などの統合された機能により、デバイスの特性を測定する際に最大の精度と一貫性が保証されます。このユニットは、新しいユーザーがRESMAPをすばやく把握し、短期間で正確な結果を得ることを可能にするさまざまなチュートリアルでさらにサポートされています。全体として、CDE RESMAP 273は非常に汎用性の高いマシンで、材料やデバイスを測定する際に迅速な分析と正確な結果を保証します。このツールは、詳細な情報を取得し、デバイスの理解を深めるために必要なツールを研究者に提供します。